专业PCIe NVMe SSD测试系统；

主流测试配置：

120 slot 2.5寸/AIC SSDs（环境温度 0～85 ºC）

240 slot 2.5寸/AIC SSDs（环境温度 +10 ºC～85 ºC）

温度范围: 0 ～85°C温度范围: 环境+ 10 ºC + 85ºC 

可编程的单DUT板电流和电压设置

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小体积 (19”机架为基础)

友好的用户下拉菜单驱动脚本语言

可视化温度控制和监控功能

友好用户界面，简易测试控制(启动/停止)和监控(状态)

单屏显示被测试设备(DUT) 所有Devices

实时显示性能、吞吐量、IOPS，温度和功耗

GUI允许从脚本级通过DUT接口命令和下位级的写和读操作直观地进行监视

专业的PCIE SSD工程样品、可靠性、质量和生产测试脚本完整测试模型库多线程高性能测试

远程访问测试系统

DUT测试板独立操作，可同时调试驱动器和继续测试其他DUT

未来存储产品需求可再升级该测试系统

每个端口独立运行

可扩展性强，测试机架可级联，以提高测试能力

外部尺寸:宽x高x深=1450 x 1860x 1070cm

380V三相(380V15A /380V30A)，可满足国际电压要求

测试结果以清晰、详细的图表和图形形式呈现

测试脚本开发工具

GUI界面的测试控制平台

详细的交互式shell命令调试界面报表功能

每个DUT信息可单独捕获

同时运行多个测试

用户定义的API插件

Python/C 支持

工厂生产测试

资质

质量保证

• Reliability Demonstration Testing 

• Ongoing Reliability Testing (ORT)

• Design Verification Testing (DVT)

设备检查/筛选

JEDEC and SNIA 认证

军工级极限温度测试能力

触摸屏

兼容多Form Factors适配器和夹具

测试套件设计和开发服务

视觉/声音报警

主操作控制台可监控多个系统